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HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱通常能夠在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)模擬出類似于長時(shí)間自然老化過程的效果。它采用高溫高濕的環(huán)境條件，通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，并且相對(duì)濕度達(dá)到85%至95%。這種條件下，HAST試驗(yàn)箱可以加速電子元器件和材料的老化過程，以更快地評(píng)估其可靠性和壽命。配備了溫濕度控制系統(tǒng)，能夠精確地調(diào)節(jié)和保持所需的溫度和濕度條件。

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)電子元器件和材料進(jìn)行快速老化測(cè)試的設(shè)備。它主要通過提高溫度和濕度來模擬惡劣環(huán)境條件，從而加速產(chǎn)品老化過程。通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，以及相對(duì)濕度達(dá)到85%至95%的條件下進(jìn)行測(cè)試。這種條件下，試驗(yàn)箱可以在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)模擬出類似于長時(shí)間自然老化過程的效果。配備了一套控制系統(tǒng)，用于監(jiān)測(cè)和調(diào)節(jié)溫度、濕度等參數(shù)，以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。