產(chǎn)品用途：用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性，對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。

執(zhí)行試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱具有以下特點(diǎn)：

高加速性能：HAST試驗(yàn)箱能夠加速產(chǎn)品老化過程，從而在相對較短的時(shí)間內(nèi)評估其可靠性和壽命。

溫濕度控制：試驗(yàn)箱配備了溫濕度控制系統(tǒng)，能夠精確地調(diào)節(jié)和保持所需的溫度和濕度條件。

壓力控制：HAST試驗(yàn)箱還可以施加一定的氣壓，以模擬產(chǎn)品在高海拔或高壓環(huán)境下的應(yīng)力情況。

多功能性：除了模擬高溫高濕條件外，HAST試驗(yàn)箱還可以進(jìn)行其他類型的加速老化測試，如熱循環(huán)、溫度沖擊等。

數(shù)據(jù)記錄與分析：試驗(yàn)箱通常配備了數(shù)據(jù)記錄和分析系統(tǒng)，能夠監(jiān)測、記錄和分析測試過程中的溫濕度等參數(shù)變化，為后續(xù)分析提供依據(jù)。

HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱在電子產(chǎn)品制造、汽車零部件、航空航天等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，能夠幫助評估產(chǎn)品在惡劣條件下的可靠性和壽命，指導(dǎo)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和改進(jìn)工藝。