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芯片-HAST老化試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述:芯片-HAST老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件,加速產(chǎn)品老化過程,從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn),是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

  • 產(chǎn)品型號(hào):DR-HAST-350
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2023-08-10
  • 訪  問  量:353
詳情介紹


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產(chǎn)品用途:用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設(shè)備)在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性,對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓(不偏壓)高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。

執(zhí)行試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法Cx:不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度,濕度/偏壓,壽命試驗(yàn)(溫濕度偏壓壽命)

JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)(加速抗?jié)裥詽B透)

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)

芯片-HAST老化試驗(yàn)箱的主要特點(diǎn)如下:

高溫高濕環(huán)境模擬:HAST試驗(yàn)箱能夠模擬出高溫高濕的條件,通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi),相對(duì)濕度達(dá)到85%至95%,可以快速加速產(chǎn)品的老化過程。

短周期測(cè)試:相比于自然老化測(cè)試,HAST試驗(yàn)箱能夠在短時(shí)間內(nèi)完成老化測(cè)試,大大縮短了測(cè)試周期,提高了測(cè)試效率。

可靠性和準(zhǔn)確性:試驗(yàn)箱配備了專業(yè)的控制系統(tǒng),可以精確地監(jiān)測(cè)和調(diào)節(jié)溫度、濕度等參數(shù),從而確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。

密封性能良好:HAST試驗(yàn)箱的內(nèi)部采用高質(zhì)量不銹鋼材料制造,具有優(yōu)異的密封性能,可以有效地防止外界環(huán)境對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的干擾。

廣泛適用性:HAST試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于各個(gè)行業(yè),包括電子產(chǎn)品、汽車零部件、航空航天等領(lǐng)域,適用于各種電子元器件和材料的老化測(cè)試。

評(píng)估產(chǎn)品可靠性:通過HAST試驗(yàn)箱進(jìn)行測(cè)試,可以提前評(píng)估產(chǎn)品在惡劣條件下的可靠性和耐久性,預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命和在困難環(huán)境下的性能表現(xiàn),為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和改進(jìn)提供指導(dǎo)。

芯片-HAST老化試驗(yàn)箱具有快速、準(zhǔn)確、可靠的特點(diǎn),是進(jìn)行電子元器件和材料老化測(cè)試的重要工具。









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