通信模塊-HAST高壓加速老化試驗箱
簡要描述:通信模塊-HAST高壓加速老化試驗箱是一種用于對電子元器件和材料進行快速老化測試的設備。它主要通過提高溫度和濕度來模擬惡劣環(huán)境條件,從而加速產(chǎn)品老化過程。通常在100°C至150°C的溫度范圍內,以及相對濕度達到85%至95%的條件下進行測試。
- 產(chǎn)品型號:DR-HAST-350
- 廠商性質:生產(chǎn)廠家
- 更新時間:2023-08-10
- 訪 問 量:290
產(chǎn)品用途:用于評估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設備)在高溫高濕條件下的運行可靠性,對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓(不偏壓)高加速應力壽命老化試驗。
執(zhí)行試驗標準:
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法Cx:不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分:試驗方法.試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度,濕度/偏壓,壽命試驗(溫濕度偏壓壽命)
JESD22-A102高壓蒸煮試驗(加速抗?jié)裥詽B透)
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
通信模塊-HAST高壓加速老化試驗箱的主要特點如下:
高溫高濕環(huán)境模擬:HAST試驗箱能夠模擬出高溫高濕的條件,通常在100°C至150°C的溫度范圍內,相對濕度達到85%至95%,可以快速加速產(chǎn)品的老化過程。
短周期測試:相比于自然老化測試,HAST試驗箱能夠在短時間內完成老化測試,大大縮短了測試周期,提高了測試效率。
可靠性和準確性:試驗箱配備了專業(yè)的控制系統(tǒng),可以精確地監(jiān)測和調節(jié)溫度、濕度等參數(shù),從而確保測試的準確性和可靠性。
密封性能良好:HAST試驗箱的內部采用高質量不銹鋼材料制造,具有優(yōu)異的密封性能,可以有效地防止外界環(huán)境對試驗結果的干擾。
廣泛適用性:HAST試驗箱廣泛應用于各個行業(yè),包括電子產(chǎn)品、汽車零部件、航空航天等領域,適用于各種電子元器件和材料的老化測試。
評估產(chǎn)品可靠性:通過HAST試驗箱進行測試,可以提前評估產(chǎn)品在惡劣條件下的可靠性和耐久性,預測產(chǎn)品的使用壽命和在困難環(huán)境下的性能表現(xiàn),為產(chǎn)品設計和改進提供指導。
通信模塊-HAST高壓加速老化試驗箱具有快速、準確、可靠的特點,是進行電子元器件和材料老化測試的重要工具。