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步入室高低溫試驗(yàn)室

簡要描述:步入室高低溫試驗(yàn)室:步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室主要由內(nèi)箱、外箱、保溫層、送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)和電路控制系統(tǒng)組成,其中內(nèi)箱為 1.2mm 厚不銹鋼板,箱體頂部具有機(jī)械式防爆泄壓口(試驗(yàn)樣品包含鋰電池?fù)Q電柜);外箱為耐高低溫防靜電噴塑鋼板,外箱涂層耐腐蝕防刮傷;中間保溫層為高強(qiáng)度 PU 發(fā)泡與高密度玻璃纖維棉。加熱系統(tǒng)采用熱風(fēng)循環(huán)加熱方式制熱;制冷系統(tǒng)制冷方式為水冷型,冷卻塔和制冷機(jī)組放置于室外

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2023-07-08
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詳情介紹


步入室高低溫試驗(yàn)室概述與優(yōu)勢說明

1. 步入式高低溫交變濕熱室,可對一二次成套聯(lián)調(diào)設(shè)備、環(huán)網(wǎng)箱、配電箱等大型設(shè)備和材料進(jìn)行高、低溫以及不同濕度環(huán)境和陽光輻射環(huán)境下存儲(chǔ)、運(yùn)輸和使用時(shí)的適用性測試,以評(píng)估產(chǎn)品的工作性能。

2. 步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室主要由內(nèi)箱、外箱、保溫層、送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)和電路控制系統(tǒng)組成,其中內(nèi)箱為 1.2mm 厚不銹鋼板,箱體頂部具有機(jī)械式防爆泄壓口(試驗(yàn)樣品包含鋰電池?fù)Q電柜);外箱為耐高低溫防靜電噴塑鋼板,外箱涂層耐腐蝕防刮傷;中間保溫層為高強(qiáng)度 PU 發(fā)泡與高密度玻璃纖維棉。加熱系統(tǒng)采用熱風(fēng)循環(huán)加熱方式制熱;制冷系統(tǒng)制冷方式為水冷型,冷卻塔和制冷機(jī)組放置于室外,加熱制冷系統(tǒng)由微電腦控制器控制。電路控制系統(tǒng)主要對高低溫室起控制、監(jiān)視保護(hù)作用。

3. 步入式高低溫交變實(shí)驗(yàn)室內(nèi)預(yù)留有氙氣燈墻(氙燈掛鉤及風(fēng)冷接口),可對被試產(chǎn)品進(jìn)行陽光輻射試驗(yàn)。

3.2 優(yōu)勢說明節(jié)能設(shè)計(jì)

采用 PID+PWM 原理的 VRF(制冷劑流量控制)技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行配備冷控制 PID 自動(dòng)調(diào)節(jié)技術(shù)(在線性降溫和低溫恒溫過程中,通過冷控制 PID 調(diào)節(jié)制冷輸出量達(dá)到溫度平衡,即制冷不制熱、制熱不制冷的“冷平衡"技術(shù))。采用該模式的設(shè)計(jì)相較于傳統(tǒng)冷熱平衡模式可節(jié)能 30%以上,具體設(shè)計(jì)方案。

步入室高低溫試驗(yàn)室滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008 標(biāo)準(zhǔn)是關(guān)于低溫試驗(yàn)的,用于評(píng)估電工電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能。該試驗(yàn)方法涉及將產(chǎn)品置于規(guī)定的低溫條件下,對其進(jìn)行測試以評(píng)估其性能表現(xiàn)和可靠性。

GB/T 2423.2-2008 標(biāo)準(zhǔn)是關(guān)于高溫試驗(yàn)的,用于評(píng)估電工電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的性能。該試驗(yàn)方法涉及將產(chǎn)品置于規(guī)定的高溫條件下,對其進(jìn)行測試以評(píng)估其性能表現(xiàn)和可靠性。

GB/T 2423.3-2006 標(biāo)準(zhǔn)是關(guān)于恒定濕熱試驗(yàn)的,用于評(píng)估電工電子產(chǎn)品在濕熱環(huán)境下的性能。該試驗(yàn)方法涉及將產(chǎn)品置于規(guī)定的濕熱條件下,對其進(jìn)行測試以評(píng)估其性能表現(xiàn)和可靠性。

GB/T 2423.4-2008 標(biāo)準(zhǔn)是關(guān)于試驗(yàn) D 的,具體試驗(yàn)內(nèi)容沒有在您的提問中給出。如果您需要了解更多關(guān)于GB/T 2423.4-2008 標(biāo)準(zhǔn)的信息,請?zhí)峁┫嚓P(guān)試驗(yàn)的具體內(nèi)容,我將盡力為您提供幫助。

GJB 150.3A-2009 是jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法的第 3 部分,主要涉及高溫試驗(yàn)。該標(biāo)準(zhǔn)用于評(píng)估jun用裝備在高溫環(huán)境下的性能和可靠性。

GJB 150.4A-2009 是jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法的第 4 部分,主要涉及低溫試驗(yàn)。該標(biāo)準(zhǔn)用于評(píng)估jun用裝備在低溫環(huán)境下的性能和可靠性。

GJB 150.9A-2009 是jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法的第 9 部分,同樣涉及低溫試驗(yàn)。這一部分可能提供了特定類型的低溫試驗(yàn)方法或適用于特定jun用裝備的低溫試驗(yàn)指導(dǎo)。

GJB 360.8-2009 是關(guān)于高溫壽命試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)。它旨在評(píng)估jun用裝備在長時(shí)間高溫環(huán)境下的使用壽命和可靠性。

GB/T 10592-2008 是關(guān)于高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件的標(biāo)準(zhǔn)。它規(guī)定了高低溫試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)和要求,用于設(shè)備制造商和用戶之間的技術(shù)交流和測試設(shè)備的選型。

GB/T 10586-2006 是關(guān)于濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件的標(biāo)準(zhǔn)。它規(guī)定了濕熱試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)和要求,用于設(shè)備制造商和用戶之間的技術(shù)交流和測試設(shè)備的選型。

GB/T 5170.2-2008 是關(guān)于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法的標(biāo)準(zhǔn),其中包括溫度試驗(yàn)設(shè)備的基本參數(shù)檢定方法。

GB/T 5170.5-2008 是關(guān)于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法的標(biāo)準(zhǔn),其中包括濕熱試驗(yàn)設(shè)備的基本參數(shù)檢定方法。

這些標(biāo)準(zhǔn)和方法主要用于jun用裝備實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境試驗(yàn),以評(píng)估jun用裝備在各種環(huán)境條件下的性能和可靠性。它們對于確保jun用裝備在實(shí)際使用中的適應(yīng)性和可靠性非常重要。




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