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簡(jiǎn)要描述：萍鄉(xiāng)光伏組件可程式高低溫箱節(jié)能省電是是指對(duì)電子元器件的老化特性進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估的設(shè)備。它通常由高低溫試驗(yàn)室和環(huán)境試驗(yàn)箱組成，可以模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、儲(chǔ)存和使用過(guò)程中可能遇到的高溫、低溫、潮濕等環(huán)境條件，以評(píng)估產(chǎn)品的耐久性和可靠性。開始測(cè)試：?jiǎn)?dòng)高低溫試驗(yàn)箱，開始進(jìn)行溫度和濕度循環(huán)測(cè)試。在測(cè)試過(guò)程中，不斷記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，包括測(cè)試時(shí)間、溫度、濕度等參數(shù)，并觀察待測(cè)電子元器件的狀態(tài)。結(jié)束測(cè)試：在測(cè)試結(jié)束后
產(chǎn)品型號(hào)：DR-H201- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-10-13
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萍鄉(xiāng)光伏組件可程式高低溫箱節(jié)能省電
萍鄉(xiāng)光伏組件可程式高低溫箱節(jié)能省電
江西電子元件老化測(cè)試高低溫試驗(yàn)箱
溫濕度范圍 | 溫度范圍0℃/20℃/-40℃/-60℃/-70℃/+100℃（150℃）：10%RH-98% | ||||
溫濕度波動(dòng)度 | ±0.3℃-0.5℃；±2.5%RH | ||||
溫濕度偏差 | ±0.5℃-2℃；±3RH（＞75%RH）;±5RH（＞75%RH）; | ||||
控制器解析精度 | ±0.01℃，±0.01%RH | ||||
升溫/降溫時(shí)間 | 常溫-150℃約40min；常溫-零下40℃約55min。 | ||||
重量 | 250KG | 300KG | 400KG | 600KG | 700KG |
觸摸屏高低溫濕熱試驗(yàn)箱材料 | 內(nèi)壁 | SUS#304不銹鋼2B面板 | |||
外殼 | 高強(qiáng)度冷軋鋼板雙面精粉烤漆 | ||||
系統(tǒng)風(fēng)路循環(huán) | 玻璃纖維+聚氨酯發(fā)泡 | ||||
系統(tǒng) | 方式 | 離心風(fēng)機(jī)-寬帶式強(qiáng)迫氣流循環(huán)（上出下進(jìn)） | |||
制冷方式 | 單級(jí)機(jī)械壓縮式制冷（或二元復(fù)疊式制冷） | ||||
制冷機(jī) | 單全封閉活塞式法國(guó)泰康壓縮機(jī) | ||||
制冷劑 | 環(huán)保冷媒（R23+404A） | ||||
冷凝方式 | 風(fēng)冷或水冷 | ||||
加熱方式 | 合金電熱絲式加熱器 | ||||
加濕器 | 半封閉式蒸汽加濕（鍋爐式） | ||||
供水方式 | 供全自動(dòng)循環(huán)供水（水質(zhì)要求電阻率＞500M） | ||||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 觀察窗（雙層中空鋼化玻璃）1個(gè)；測(cè)試孔50mm（位于左邊）1個(gè)；樣品架2層；箱內(nèi)照明燈（熒光燈）1個(gè)；紗布1包；掛8個(gè)；保險(xiǎn)絲2個(gè)；小腳輪4個(gè)；電源線1條。 | ||||
安全內(nèi)置 | 無(wú)熔絲開關(guān)、防干燒裝置、壓縮機(jī)超壓、過(guò)熱、過(guò)流保護(hù)、超溫保護(hù)、風(fēng)機(jī)過(guò)載保護(hù)、缺水保護(hù)、保險(xiǎn)線，緊急停車等保護(hù)裝置 | ||||
測(cè)試設(shè)備：高低溫試驗(yàn)箱
測(cè)試對(duì)象：光伏組件、電子元器件
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1-2008
測(cè)試要求：模擬不同的溫度環(huán)境，測(cè)試電子元器件的老化特性
測(cè)試過(guò)程：
確認(rèn)測(cè)試參數(shù)：將測(cè)試參數(shù)設(shè)置為-40℃~85℃，濕度為20%~90%RH，并將測(cè)試時(shí)間設(shè)置為48小時(shí)。
設(shè)備準(zhǔn)備：將待測(cè)電子元器件放置于試驗(yàn)箱中，并將試驗(yàn)箱溫度和濕度設(shè)定為測(cè)試參數(shù)所需的值。
開始測(cè)試：?jiǎn)?dòng)高低溫試驗(yàn)箱，開始進(jìn)行溫度和濕度循環(huán)測(cè)試。在測(cè)試過(guò)程中，不斷記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，包括測(cè)試時(shí)間、溫度、濕度等參數(shù)，并觀察待測(cè)電子元器件的狀態(tài)。
結(jié)束測(cè)試：在測(cè)試結(jié)束后，將待測(cè)電子元器件取出，并進(jìn)行外觀和性能檢查。
測(cè)試結(jié)果：
在測(cè)試過(guò)程中，待測(cè)電子元器件經(jīng)過(guò)高低溫循環(huán)測(cè)試后，經(jīng)外觀和性能檢查后發(fā)現(xiàn)：
外觀無(wú)明顯損傷或變形。
元器件性能穩(wěn)定，無(wú)明顯變化。
結(jié)論：
通過(guò)高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試后，待測(cè)電子元器件經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間高低溫循環(huán)測(cè)試后，未發(fā)現(xiàn)其老化特性明顯變化，其可靠性和穩(wěn)定性得到了有效驗(yàn)證，符合GB/T 2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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